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什么是布魯克X射線熒光光譜儀

更新時間:2024-12-15點(diǎn)擊次數(shù):37

布魯克 X 射線熒光光譜儀簡介

布魯克 X 射線熒光光譜儀(Bruker X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱 XRF)是一種基于 X 射線熒光原理的高精度元素分析儀器。它以其高靈敏度、非破壞性和多元素同步分析的特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于工業(yè)、科研和質(zhì)量控制領(lǐng)域。


原理概述

X 射線熒光光譜儀通過向樣品發(fā)射高能 X 射線,激發(fā)樣品中的原子。被激發(fā)的原子通過釋放特征熒光 X 射線返回穩(wěn)定狀態(tài)。每種元素的熒光信號具有特定的能量和波長,通過檢測這些信號,儀器能夠精準(zhǔn)地識別樣品中的元素種類及其含量。


布魯克 XRF 的核心特點(diǎn)

  1. 高靈敏度與寬元素覆蓋范圍

    • 檢測范圍從輕元素(鈹 Be)到重元素(镅 Am),可覆蓋周期表的大部分元素。

    • 檢出限低至 ppm 級,適用于微量和痕量分析。

  2. 非破壞性分析

    • 無需對樣品進(jìn)行化學(xué)處理,樣品結(jié)構(gòu)和形態(tài)不會受到破壞,適用于貴重樣品的分析。

  3. 多元素同時檢測

    • 一次掃描即可同時檢測樣品中多種元素,顯著提升檢測效率。

  4. 樣品適配性強(qiáng)

    • 能夠分析固體、粉末、液體和薄膜等多種樣品形態(tài),無需復(fù)雜的制備步驟。

  5. 定量與定性分析功能

    • 可實現(xiàn)高精度的元素定量分析,同時支持未知樣品的定性篩查。


布魯克 XRF 的技術(shù)優(yōu)勢

  1. HighSense 光路技術(shù)

    • 提升檢測靈敏度和精準(zhǔn)度,尤其是對輕元素(如鋁、鎂)的分析。

  2. XRF2 微區(qū)分析功能

    • 光斑尺寸最小可達(dá) 300 µm,適用于樣品的元素分布研究和缺陷分析。

  3. 自動化與智能化操作

    • 直觀的 TouchControl 界面和 EasyLoad 樣品處理系統(tǒng),支持批量樣品自動化分析。

  4. 長壽命與低維護(hù)成本

    • SampleCare 技術(shù)保護(hù)關(guān)鍵部件免受污染,延長設(shè)備運(yùn)行時間,降低維護(hù)頻率。


布魯克 XRF 的應(yīng)用領(lǐng)域

  1. 工業(yè)與質(zhì)量控制

    • 礦物與地質(zhì):檢測礦石中主量和微量元素的含量。

    • 金屬與合金:分析金屬成分、涂層厚度以及雜質(zhì)。

    • 水泥與化工:控制生產(chǎn)中氧化物和微量元素的精確配比。

  2. 科研與材料研究

    • 聚合物與納米材料:分析添加劑及元素分布。

    • 古生物學(xué)與地球科學(xué):研究化石、巖石等樣品中的微區(qū)元素分布。

  3. 環(huán)境與能源

    • 石油化工:分析油品、潤滑劑中的微量元素。

    • 環(huán)保監(jiān)測:快速檢測重金屬污染物。


布魯克 XRF 的常見型號

  1. S8 TIGER

    • 高性能波長色散 XRF(WDXRF),支持精密定量分析和微區(qū)掃描功能。

    • 配備 HighSense 技術(shù),實現(xiàn)輕元素高靈敏度檢測。

  2. S2 PUMA

    • 能量色散 XRF(EDXRF),適用于快速、多元素的定量分析,特別適合高通量應(yīng)用。


優(yōu)勢總結(jié)

布魯克 X 射線熒光光譜儀以其高效、精準(zhǔn)、多功能的特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中。其核心優(yōu)勢包括:

  • 廣泛適用性:從輕元素到重元素,從固體到液體樣品,適配性強(qiáng)。

  • 高效檢測:多元素同步分析,降低檢測時間。

  • 高可靠性:長期穩(wěn)定運(yùn)行,減少維護(hù)需求。

布魯克 XRF 是現(xiàn)代實驗室和生產(chǎn)質(zhì)量控制的關(guān)鍵工具,為材料成分分析提供可靠保障。